概要
弊社の高温X線回折（高温XRD）装置は、半導体検出器と高温加熱アタッチメントとの組み合わせにより、物質の加熱（または雰囲気加熱）による変化 ・変態などの反応過程をリアルタイムで知ることが出来きます。
従来型の検出器では、試料によって短時間で急速に相変化してしまうものもあり、経時相変化測定が不可能でしたが、本回折装置では半導体検出器による超高速のＸＲＤ測定を行うことで、動的な変化を追従した測定が可能になりました。
Ｘ‘Ｐｅｒｔ – ＰＲＯ ＭＰＤ
高温X線回折装置
応用分野
●固相反応の追跡
●相転移の測定
●酸化反応の追跡
●固溶の測定
図 １，２に水酸化カルシウムの３４０～４１０℃における温度可変測定例を示します。
３５０℃でＣａＯの回折線が現れはじめ、４１０℃ではＣａ（ＯＨ）２の回折線は観測 されなくなり、 ＣａＯ相への転移が完了したことが確認できます。
図 １． Ｃａ（ＯＨ）２温度可変測定例
昇温速度２０℃／ｍｉｎ 測定時間 ２分
（１スキャン）
図 ２． Ｃａ（ＯＨ）２温度可変測定例
〔 ３２～３９°拡大プロファイル 〕
試料加熱高温アタッチメントの特徴と仕様
●各種ガスフロー可能
●サンプルスピナー装着
●加熱温度範囲：室温 ～ １，２００℃
