技術分野

化学

技術レポート

高温X線回折測定(高温XRD・MAX 1200℃)

概要

 弊社の高温X線回折(高温XRD)装置は、半導体検出器と高温加熱アタッチメントとの組み合わせにより、物質の加熱(または雰囲気加熱)による変化 ・変態などの反応過程をリアルタイムで知ることが出来きます。

 従来型の検出器では、試料によって短時間で急速に相変化してしまうものもあり、経時相変化測定が不可能でしたが、本回折装置では半導体検出器による超高速のXRD測定を行うことで、動的な変化を追従した測定が可能になりました。

応用分野

 ●固相反応の追跡  ●相転移の測定  ●酸化反応の追跡  ●固溶の測定

 図 1,2に水酸化カルシウムの340~410℃における温度可変測定例を示します。

 350℃でCaOの回折線が現れはじめ、410℃ではCa(OH)2の回折線は観測 されなくなり、 CaO相への転移が完了したことが確認できます。

試料加熱高温アタッチメントの特徴と仕様

 ●各種ガスフロー可能  ●サンプルスピナー装着
 ●加熱温度範囲:室温 ~ 1,200℃